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首頁晶振行業(yè)動態(tài) 從檢測設(shè)備撰寫晶振產(chǎn)品規(guī)格書以及好壞的測量

從檢測設(shè)備撰寫晶振產(chǎn)品規(guī)格書以及好壞的測量

來源:http://eitherspanlaw.com 作者:yijindz 2012年11月20

透過以上幾篇有關(guān)晶振文章對該產(chǎn)品也有了一定的了解,從石英的認(rèn)識到生產(chǎn)過程到市場銷售都有所了解,而這篇文章是爭對很多客戶對產(chǎn)品要求提供規(guī)格書做詮釋,規(guī)格書是什么,規(guī)格書有什么好處,規(guī)格書包括什么,從哪些參數(shù)下手得到完整的規(guī)格書.幾乎所有的產(chǎn)品都有規(guī)格書它是對某個產(chǎn)品的認(rèn)可,很多研發(fā)公司方案公司工程在選型時就要對著規(guī)格書來熟知該產(chǎn)品是否能用在自己的研發(fā)方案上,規(guī)格書上提供產(chǎn)品圖片產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)還有產(chǎn)品尺寸圖,例如KDS晶振32.768K圓柱插件晶振用的很廣泛,有些工程可能第一次用新型方案上對于石英晶體又不太了解,就會要求供應(yīng)商提供相關(guān)產(chǎn)品規(guī)格書來確定,從晶振的缺陷檢測產(chǎn)品是否合格,我們拿卡尺,測試機(jī),測試電腦,頻率計(jì).首先外觀絲印檢驗(yàn),封裝尺寸檢驗(yàn),然后性能指標(biāo)檢驗(yàn),最后可焊性檢驗(yàn).

簡單的肉眼觀看:石英晶振外觀是否出現(xiàn)氧化,生銹,鍍層脫落.是否有殘缺污物.最重要的是外形和封裝尺寸是否相符,跌落后晶振引腳會不會出現(xiàn)彎曲變形情況,一些沾在表面的可探試性污漬會不會影響功能,還有就是可焊性怎么樣焊接會不會脫落.規(guī)格書上的尺寸是否符合產(chǎn)品,引腳長直徑,間距等多少毫米(mm).在利用電腦測試之前先對要測試的產(chǎn)品進(jìn)行跌落實(shí)驗(yàn),一米的高度自由跌落到膠木板上這樣的程序重復(fù)幾次然后打開測試電腦,取已經(jīng)跌落過的晶振安插在測試機(jī)上,再將測試機(jī)與電腦連接,雙擊桌面最后打開測試程序判斷是否具備些功能,再將測試機(jī)上的頻率測試線與頻率計(jì)連接,從頻率計(jì)顯示屏讀出該晶振頻率,確認(rèn)是否符合要求.還有就是可焊性檢驗(yàn),規(guī)格書上指標(biāo)都是經(jīng)過這樣的程序才算達(dá)標(biāo).

晶振好壞的測量

產(chǎn)品都需要QC經(jīng)過檢驗(yàn)才能出廠電子元器件所于易碎產(chǎn)品檢驗(yàn)就更加嚴(yán)格了,最簡單的方法就是在耳朵邊輕輕搖動,若能聽到聲音說明內(nèi)部晶體已經(jīng)啐了即使能用頻率也偏移,負(fù)載電容漂移,精度不準(zhǔn)確等等,一般情況下是不能用了.專用的晶振檢測器比較貴有人就用示波器測量,這也不是不行只是測得沒那么準(zhǔn)確,用萬用表也可以兩個引腳電壓是否是芯片工作電壓的一半,用鑷子碰晶體另外一個腳電壓會有變化說明這顆料可以用性能也穩(wěn)定.石英振子負(fù)載電容也是不可忽視的用數(shù)字電容表測量其電容,測晶振兩端的電阻值顯示無窮大證明無短路或漏電現(xiàn)象,再將度試電筆插入試電孔內(nèi),在用手指捏住其中一只引腳,將其另一只引腳觸碰試電筆頂端的金屬部分,若試電筆氖泡發(fā)紅,證明是正品質(zhì)量沒問題,若氖泡不亮,則說明有損壞.

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