通過測量晶振的驅(qū)動電平了解其使用性能
來源:http://eitherspanlaw.com 作者:億金電子 2019年08月28
石英晶振晶體用于廣泛的領(lǐng)域,包括諸如智能電話,平板電腦和PC之類的信息通信設(shè)備,諸如平板,電視和BD播放器之類的AV設(shè)備,諸如汽車電子設(shè)備之類的電子設(shè)備,以及諸如移動通信和光通信網(wǎng)絡(luò)之類的基礎(chǔ)設(shè)施系統(tǒng).石英貼片晶振支持社會作為我們生活中不可或缺的電子元件.告訴您如何測量驅(qū)動電平(激勵電平)(以下稱為驅(qū)動電平).
通過測量晶振的驅(qū)動電平了解其使用性能,我們可以設(shè)定驅(qū)動級別由以下公式表示,因此測量目標(biāo)是RL和i.
DL:驅(qū)動電平
RL:晶體單元負(fù)載下的等效電阻
i:流過晶體單元的電流值(有效值)
1、“RL:負(fù)載下晶體諧振器的等效電阻”的測量方法
<概述>使用
網(wǎng)絡(luò)分析儀和負(fù)載電容CL jig,用于實驗的晶體單元的RL通過以下測量程序確定(當(dāng)NDK晶體單元安裝在基板上*1時).措施.
(*1)如果板上沒有安裝NDK晶振單元,請準(zhǔn)備適當(dāng)?shù)腘DK晶體單元并將其用作實驗晶體單元.
<測量程序>
(1)用烙鐵拆下安裝在電路板上的石英晶體單元.
(2)去除附著在晶體單元上的多余焊料后,等到晶體單元達(dá)到室溫.
(3)晶體振蕩器的負(fù)載電容C大號被設(shè)定為夾具(負(fù)載電容C大號容量夾具,由規(guī)范指定的負(fù)載電容C大號).
(4)負(fù)載電容C大號夾具被設(shè)置為網(wǎng)絡(luò)分析儀中,根據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析器手冊,晶體振蕩器自身的?大號被測量.
2、“i:流過石英晶體諧振器的電流值(有效值)”的測量方法
<總結(jié)>
將實驗晶體諧振器放置在基板上,并使用以下測量程序確定在指定溫度條件下的峰峰值電流值.測量并將其轉(zhuǎn)換為RMS值.
<測量程序>
(1)將引線連接到實驗晶體單元并將其放置在基板上,電流探頭穿過引線.
(2)在將石英晶體單元及其周圍環(huán)境穩(wěn)定在指定溫度后,振蕩晶體單元并使用示波器測量峰峰值電流值.
(3)將峰峰值電流值轉(zhuǎn)換為有效值.正弦波AC有效值計算方法(見下文)用于轉(zhuǎn)換.
I有效值:流經(jīng)晶體單元的電流值(有效值)
I p-p:流經(jīng)晶振晶體單元的電流值(峰值到峰值)
驅(qū)動電平測量圖像如下所示.
通過測量晶振的驅(qū)動電平了解其使用性能,我們可以設(shè)定驅(qū)動級別由以下公式表示,因此測量目標(biāo)是RL和i.
DL:驅(qū)動電平
RL:晶體單元負(fù)載下的等效電阻
i:流過晶體單元的電流值(有效值)
1、“RL:負(fù)載下晶體諧振器的等效電阻”的測量方法
<概述>使用
網(wǎng)絡(luò)分析儀和負(fù)載電容CL jig,用于實驗的晶體單元的RL通過以下測量程序確定(當(dāng)NDK晶體單元安裝在基板上*1時).措施.
(*1)如果板上沒有安裝NDK晶振單元,請準(zhǔn)備適當(dāng)?shù)腘DK晶體單元并將其用作實驗晶體單元.
<測量程序>
(1)用烙鐵拆下安裝在電路板上的石英晶體單元.
(2)去除附著在晶體單元上的多余焊料后,等到晶體單元達(dá)到室溫.
(3)晶體振蕩器的負(fù)載電容C大號被設(shè)定為夾具(負(fù)載電容C大號容量夾具,由規(guī)范指定的負(fù)載電容C大號).
(4)負(fù)載電容C大號夾具被設(shè)置為網(wǎng)絡(luò)分析儀中,根據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析器手冊,晶體振蕩器自身的?大號被測量.
2、“i:流過石英晶體諧振器的電流值(有效值)”的測量方法
<總結(jié)>
將實驗晶體諧振器放置在基板上,并使用以下測量程序確定在指定溫度條件下的峰峰值電流值.測量并將其轉(zhuǎn)換為RMS值.
<測量程序>
(1)將引線連接到實驗晶體單元并將其放置在基板上,電流探頭穿過引線.
(2)在將石英晶體單元及其周圍環(huán)境穩(wěn)定在指定溫度后,振蕩晶體單元并使用示波器測量峰峰值電流值.
(3)將峰峰值電流值轉(zhuǎn)換為有效值.正弦波AC有效值計算方法(見下文)用于轉(zhuǎn)換.
I有效值:流經(jīng)晶體單元的電流值(有效值)
I p-p:流經(jīng)晶振晶體單元的電流值(峰值到峰值)
驅(qū)動電平測量圖像如下所示.
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